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PCT高壓加速老化試驗箱

更新時間：2023-11-13

簡要描述：

PCT高壓加速老化試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

產(chǎn)品詳細資料：

一、用途：

PCT高壓加速老化試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

二、優(yōu)勢特點：

1.具有自動加水功能并且在試驗過程中水過低時自動補水。

2.試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。　　

3.溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示。　　

4.計時器：LED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。　　

5.精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。　　

6.運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質(zhì)。

7.一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。　　

8.內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀

三、執(zhí)行與滿足標準:

1.IEC60068-2-66

2. JESD22-A102-B

3. EIAJED4701

4. EIA/JESD22

四、PCT高壓加速老化試驗箱技術(shù)規(guī)格：

型號	ADX-PCT-25	ADX-PCT-35	ADX-PCT-45	ADX-PCT-65
內(nèi)箱尺寸（WHD）	φ250*300	φ300*450	φ450*500	φ600*650
使用溫度	121℃；132℃；(143℃特殊選用)
使用濕度	100％RH飽和蒸氣濕度
使用蒸氣壓力(絕對壓力)	個環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ；(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格)
循環(huán)方式	水蒸氣自然對流循環(huán)
安全保護裝置	缺水保護，超壓保護、 (具有自動/手動補水功能，自動瀉壓功能)
壓力范圍	表壓力+0.2～2.0kg/cm2 加壓時間:大約45分鐘
標準配置	不銹鋼隔板兩層
電源	AC 380V±10% 50Hz 3相5線（3根火線，1根零線，1根保護地線）

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